Nios® II体系结构支持Joint Test Action Group(JTAG)调试模块，提供片内仿真功能，由主机PC在远端控制处理器。Nios II集成开发环境(IDE)等PC软件调试工具与JTAG调试模块进行通信，在以下方面为设计人员提供了帮助：
- 将程序下载至存储器
- 启动、停止执行
- 设置断点和观察点
- 分析寄存器和存储器
- 收集实时执行跟踪的数据
与JTAG电路相连的调试模块内建在所有的Altera® FPGA(图1所示)中，通过下载电缆与主机PC连接，例如Altera USB Blaster(包含在Nios II开发套件中)，或者First Silicon解决方案提供的系统分析仪探针等。
图1.Nios II JTAG调试模块
软件开发人员可以从主机软件中访问内核，主机软件包括Nios II IDE(包含在所有的Nios II开发套件中)或者Altera 嵌入式软件工具合作伙伴提供的IDE和调试器。
需要更高级调试功能的用户可以采用code|lab调试以及FS2 ISA-NIOS探测等。Accelerated Technology和First Silicon解决方案提供更详细的信息。
Nios II处理器手册提供JTAG调试模块和使用Nios II IDE进行软件调试更详细的信息。
